LED芯片质量的好坏直接决定了LED性能的高低。在LED前道制程工艺中，清洗、蒸镀、黄光、化学蚀刻等复杂的加工步骤不可避免得使芯片产生缺陷。如蒸镀过程中，芯片因使用弹簧夹固定而产生夹痕；黄光作业中，若显影不完全或光罩有破洞，会使芯片发光区有残余金属等。

因此，为保证芯片质量，在LED前道制程中，需要对LED芯片进行缺陷检测，确保后道制程的产品良率，提升生产效益。

芯片检测最早采用人工目检的方式，但随着LED照明、显示行业技术的逐步提升，封装器件的小型化趋势对芯片检测提出了更严苛的要求。人工目检难度增大、误判率升高、并且无法检测某些类型的缺陷，已经不能满足市场的检测要求。自动光学AOI检测技术可以自动定位和检测LED芯片，能有效降低工人劳动强度、降低检测误判率，并大大提高工作效率，节省了大量的人力物力成本。